JP CashCraze - шаблон joomla Продвижение

Главная > Об инновациях >Методология статистики НИОКР и инноваций > Формирование статистики инноваций >  Статистика патентов

 

Патент является  интеллектуальной собственностью, прямо связанной с изобретениями в технической области. Патент может выдаваться фирме, отдельному лицу или государственному органу.

С целью международного сравнения статистика по патентным заявкам предпочтительнее статистики по выданным патентам, поскольку период между датой подачи заявки и датой выдачи патента в некоторых странах составляет около десяти лет.

Показатели, базирующиеся на простом подсчете оформленных управлением интеллектуальной собственности патентов, плохо поддаются международному сравнению и очень неоднородны по ценности патента, определенной в границах одного управления. Более того, отличия в патентном законодательстве стран очень усложняет сравнение патентной статистики между двумя (или более) патентными управлениями.

Чтобы преодолеть эти проблемы, ОЭСР разрабатывает новые типы патентных индикаторов: подсчет семейства патентов-аналогов. Семейства патентов-аналогов определяется как набор патентов, выданных в различных странах для защиты одного изобретения (характеризуется первым применением в какой-либо стране, именуемым приоритетным применением, которое было распространено на другие управления). Создание показателей на базе семейства патентов-аналогов для целей статистики улучшает возможности международного сравнения, исключая местные преимущества и географическое влияние. Включение патента в семейство подтверждает его высокую ценность.

Среди немногих доступных показателей технологических результатов, показатели на базе патентов используются наиболее часто. Они позволяют оценить результаты инновационной деятельности в стране.

Существуют некоторые препятствия для количественного определения результатов НИОКР и/или инновационной деятельности с помощью патентной статистики. Многие инновации не патентуются, поскольку они защищены другими средствами, такими как авторские права, торговая марка и т.д. Склонность к патентованию отличается в разных странах и по отраслям промышленности, и это усложняет сравнения между странами или отраслями промышленности. Распределение ценности патентов является неравномерным, поскольку многочисленные патенты не имеют промышленного применения, т.е. их ценность невелика, а по- настоящему ценных патентов очень мало. Учитывая такую неоднородность, подсчитывать патенты в предположении, что все они имеют одинаковую ценность, – неправильно. Количество применений патентов или прав на разработку сложно интерпретировать; количество патентов необходимо использовать совместно с другими показателями.

Основным источником данных по статистике патентов на национальном уровне являются данные административного источника – Комитета по правам интеллектуальной собственности Министерства юстиции Республики Казахстан.

По статистике патентов формируются следующие основные показатели:

количество полученных охранных документов на созданные новые технологии и объекты техники:

  1. образец;
  2. интегральных микросхем;
  3. лицензии.

В Приложении приводятся примеры инноваций каждого типа. Они предназначены как иллюстрации, и их перечни ни в коем случае не должны считаться исчерпывающими. Их цель - создать у практических работников, проводящих обследования, лучшее понимание каждого типа инноваций; они, однако, не предназначены для демонстрации предприятиям- респондентам в качестве примеров инноваций. Для этого есть две причины. Во-первых, наличие образцового перечня может побуждать респондентов к исключению инноваций, которые в нем не упомянуты. Во-вторых, перечень будет устаревать, а все инновации невозможно предвидеть. Следует также подчеркнуть, что два основных критерия для распознавания инноваций состоят в том, что они воплощают существенное изменение и являются новыми для предприятия. Таким образом, некое изменение может быть инновацией для одного предприятия, но не будет ей для другого. 

 

Источник: Методология по формированию показателей статистики научно-исследовательских и опытно-конструкторских работ и инноваций, Астана, 2013.

Назад